Вопрос по моделированию реальной катушки индуктивности

Finarfin спасибо

Если я правильно понял, то твоя задача состоит не в измерении параметров индуктивности, а в определении потерь конденсатора tg(delta)? Добротность индуктивности нормируется производителем на определенной частоте (т.е. не является константой) Q(f)<>const. Добротность, другими словами, это отношение "полезного" индуктивного сопротивления катушки (а оно прямопропорционально частоте) к "вредному" активному сопротивлению (сопротивление проводов, потери в материале сердечника). Чем больше добротность катушки, тем ближе она к идиальному элементу. С повышением частоты добротность всегда падает. Скин эффект проявляется уже на частотах 20кГц! На частоте 100кГц глубина проникновения составляет 0.1мм, а на 30МГц всего 0.01мм! Тогда катушку надо мотать проводом диаметром max 0.02мм. Такой провод (0.02мм) есть в серии ПЭВ... но меньше уже не бывает. Схему еще не смотрел, так как нет RAR. По схеме отвечу позже.

Вобщем глянешь на схему - она работает с моногармоническим сигналом и можно моделировать катушку последовательно соединенными индуктивностью и сопротивлением. но поскольку система будет производить сканирование по частоте, для каждого случая сопротивление надо считать отдельно. C нетерпением жду совета где достать зависимость Q(f)... Но мне самое главное проверить формулы из Клюева, потому что я не могу их заново вывести, значит верить им пока нельзя несмотря на авторитет авторов. Эо можно сделать и не зная этой зависимости Q(f).
<offtop> ЗЫ в перспективе приборчик должен иметь все преимущества диэлькометрических методов без такого недостатка, как отсутствие избирательной чувствительности к разным веществам </offtop>

Посмотрел я эту книгу и могу сказать, что в целом там все верно, но все свалено в одну кучу, так что разобраться достаточно сложно. Формула, которая там приведена, работает только в случае малых потерь (в противном случае нельзя рассчитывать емкости как параллельное соединение). А также измерительный переменный конденсатор должен быть значительно больше измеряемого. Использовать данные формулы или нет зависит от того, какая стоит конкретная задача, какую надо достичь погрешность, какой диапазон измеряемых емкостей, какие ожидаются потери в диэлектрике. После постановки задачи можно думать над решением и выбирать подходящие способы измерений. На счет зависимостей Q(f), то они даются производителями. Вот например, фирма Epcos h ttp://www.epcos.com/inf/30/ds/b82432_c.pdf. Там можно найти и другие дроссели. А формулы существуют только для первого объяснения принципа работы.

tiger_sun пишет: А формулы существуют только для первого объяснения принципа работы.

, а также оптимального выбора номиналов, формирования формул для расчета измеряемой величины из кода на ацп или цап (в зависимости от структуры), и точностного синтеза и анализа устройства.
tiger_sun, спасибо, вобщемто как-никак но я продвинулся в решении задачи
просто я получил формулки, по которым получается что при увеличении потерь в катушке резонансная частота падает по сравнению с резонансной частотой без потерь 1/(2*pi*sqrt(L*C))
щас посмотрю насколько сильно это падение для катушечек Epcos, а там дело пойдет. До чего же у буржуев лучше развита электроника чем у нас!!! даже на катушки - подробные датащиты, а у нас на ответственные микрухи днем с огнем
также мне для расчетов нужны величины модулей коэффициента передачи, и для них тоже получаются с учетом потерь более сложные формулы, чем исходные в Клюеве. тоже надо будет оценить расхождение. tg(delta) у меня может быть до 0,5..... *ушел в маткад*
ps Слухай, вот в том датащите, на который ты ссылку дал на 7-й странице график |Z|(f) имеет острую вершину и после быстро падает - это из-за паразитной емкости видать? это проходилось по электронике, но я не знал что она так круто влияет *чешет репу*
блин, надо сразу студентов учить по примерам из датащитов на современную элементную базу, а то выпускает универ динозавров :lol: